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書籍情報
結晶学や転位論の知識を全くもたない読者を対象に，結晶材料を電子顕微鏡で観察，解析するのに，最低限必要な知識を得ることを目的とし，1997年に本書の初版を刊行した．
当時はCTEMが主流で，STEMはいまだわき役の感があった．しかし，その後のSTEMの進展はめざましいものがある．しかし，最近のSTEMは超高分解能観察に用いられることが多く，STEMにおける回折コントラストに関する教科書あるいは文献はほとんどない．今回の増補新版ではSTEMの回折コントラストについて詳述した．また，転位のバーガース・ベクトルの決定法としてLACBEDなどが開発され，4H-SiCやGaNなどに応用されている．LACBEDによる方法はベンド・コンターを利用した方法と原理的には同一であり，今回の増補新版ではこの両者の関係についても併せて詳述した．（「増補新版にあたって」より） |
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| 材料学シリーズ：堂山昌男・小川恵一・北田正弘監修 |
結晶電子顕微鏡学 増補新版
材料研究者のための
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| A5／300頁 定価（本体4400円＋税） 978-4-7536-5605-9
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| 坂 公恭（工学博士） 著 |
 目 次 |
第1章 結晶学の要点
結晶構造と空間格子／ミラー指数／六方晶用指数／代表的な結晶構造
第2章 結晶のステレオ投影と逆格子
空間投影／ステレオ投影の応用／逆格子
第3章 結晶中の転位
転位の定義／バーガース・ベクトル／転位のまわりの変位／FCC結晶中の不完全転位／規則合金・金属間化合物中の超転位
第4章 結晶による電子線の回折
平面波／原子による散乱／単位胞による回折／反射球またはエワルド球／構造因子／結晶の外形による逆格子点の広がり
第5章 電子顕微鏡
電子顕微鏡の構造／電子回折と電子顕微鏡像／電子回折図形とその指数付け／菊池図形／結晶粒を2個含む領域からの回折図形の解析：方位関係の解析／補遺
第6章 完全結晶の透過型電子顕微鏡像
回折コントラストと明視野像および暗視野像／制限視野回折／等厚干渉縞とベンド・コンター／動力学的回折理論／CAT法による人工超格子の界面の急峻性の評価／補遺
第7章 面欠陥と析出物のコントラスト
一般論／面欠陥の解析／析出物／モアレ縞／面欠陥のコントラストの要約／補遺
第8章 転位のコントラスト
転位線のバーガース・ベクトルの決定／バーガース・ベクトルの符号の決定／転位ループの性質の決定／その他のコントラスト／補遺
第9章 ウィーク・ビーム法，ステレオ観察等
ウィーク・ビーム法／ステレオ観察／トレース解析／表面の効果
第10章 STEMにおける回折コントラスト
はじめに／STEMにおける回折コントラスト／STEMにおける回折コントラストの分解能／HAADF／STEMの利点と欠点
第11章 CBEDとLACBED
はじめに／LACBEDによる転位の性質の決定／バーガース・ベクトルの絶対値の決定法の比較
付 録
A 立方晶の｛100｝面と｛111｝面から構成された立体モデル．／B 極ステレオ網とウルフ網．／C 立方晶の001標準投影．／D 立方晶の｛HKL｝面と｛hkl｝面（または〈HKL〉方向と〈hkl〉方向）のなす角度．／E 2つの面の間の角度および2つの方向の間の角度．／F （hkl）面の面間隔．／G らせん転位の模型．／H トンプソンの四面体．／I 立方晶でおきる回折．／J FCC結晶，BCC結晶およびダイヤモンド構造結晶の電子回折図形の例．／K FCC結晶のB＝［111］およびBCC結晶のB＝［001］のまわりの菊池マップ．FCC結晶のB＝［001］から［100］にまたがる菊池マップ．HCP結晶のB＝［110］から［120］にまたがる菊池マップ．／L 背面X線ラウエ法による単結晶の方位決定．
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